SIFTを用いた特徴点記述について

SIFTを用いた特徴点記述では何の制限もかけずに行うと、SiftDiscriptorExtractorを用いてグレースケール画像、特徴点検出のキーポイント、出力用のMatの引数を使用すると思います。
このキーポイントの引数部分に厳選したものだけを用いたいと考えているのですが、例えば厳選した(x,y)座標でそれぞれに格納した配列をこのキーポイントの入る箇所に引数として用いたいと考えたとき、この座標を一つの引数として変換して代入することは可能なのでしょうか？？

一部抜粋ですが、コードも添付しております。

まだまだ初心者で、意味をはき違えている箇所もあるかと思いますが、その都度訂正させていただきますのでご理解いただけると幸いです。

c++
1    //コーナー検出で得た(x,y)座標に分散値を用いて閾値厳選したもの	
2    que_x_arr.push_back(xq);
3	que_y_arr.push_back(yq);
4	tra_x_arr.push_back(xt);
5	tra_y_arr.push_back(yt);
6
7//この間にキーポイントとして(x,y)の情報を一つに格納できる処理が欲しい
8
9	//特徴量記述
10	SiftDescriptorExtractor extractor;
11	Mat q_desc, t_desc;
12	Ptr<SiftDescriptorExtractor> featureExtractor = SiftDescriptorExtractor::create();
13	featureExtractor->compute(que_gry, que_key, q_desc);
14	featureExtractor->compute(tra_gry, tra_key, t_desc);
15
16//このque_keyとtra_keyの部分に上記の座標に置き換えることができるのかが知りたいです
17//que_keyとtra_keyはコーナー検出で得たキーポイント
18